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首頁(yè)-惠州半導(dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)





更新時(shí)間:2025-12-21
簡(jiǎn)要描述: A0I的定義 AOI英文全稱(chēng)AutomatedOpticalInsp

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詳細(xì)介紹
AOI英文全稱(chēng)AutomatedOpticalInspection,即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。是利用PCB板的線路銅面與環(huán)氧樹(shù)脂基材不同的反光效果,通過(guò)光學(xué)掃描出PCB板的圖像與標(biāo)準(zhǔn)板(CAM資料)比較,檢測(cè)出PCB線路圖形中的缺點(diǎn)。檢查出有缺陷的PCB,提高PCB板的質(zhì)量,減少報(bào)廢;檢查出有缺陷的PCB,以便可以分析產(chǎn)生缺陷的原因,改善制程
●AOI的原理:通過(guò)光學(xué)掃描出PCB板的圖像與標(biāo)準(zhǔn)板(CAM資料)比較,檢測(cè)出PCB線路圖形中的缺點(diǎn)。
●AOI資料制作:利用工程給出文件解壓,優(yōu)化,制作AOI測(cè)試資料,AOI掃描時(shí)資料與實(shí)際板面圖形對(duì)比,圖形有差異時(shí),就會(huì)報(bào)點(diǎn),找出不良缺陷.
●AOI掃描:利用AOI資料,設(shè)定相關(guān)參數(shù),對(duì)板面進(jìn)行對(duì)位掃描,掃描時(shí)實(shí)際板面數(shù)據(jù)會(huì)和AOI資料數(shù)據(jù)形成對(duì)比,找出不良缺陷
●VRS檢修:利用AOI掃描數(shù)據(jù),調(diào)取AOI測(cè)試資料,設(shè)定VRS定位點(diǎn),所有數(shù)據(jù)必須與AOI測(cè)試一致,進(jìn)行找點(diǎn),VRS人員對(duì)報(bào)點(diǎn)處檢修,開(kāi)路或缺口用水性筆劃2豎,短路及其它缺點(diǎn)則劃圈圈. 如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備。惠州半導(dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)

自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)是一種利用光學(xué)捕捉PCB圖像的方法,以查看組件是否丟失,是否在正確的位置,以識(shí)別缺陷,并確保制造過(guò)程的質(zhì)量。它可以檢查所有尺寸的組件,如01005,0201,和0402s和包,如BGAs, CSPs, LGAs, PoPs,和QFNs。
AOI的引入開(kāi)啟了實(shí)時(shí)巡檢功能。隨著高速、大批量生產(chǎn)線的出現(xiàn),一個(gè)不正確的機(jī)器設(shè)置、在PCB上放置錯(cuò)誤的部件或?qū)R問(wèn)題都可能導(dǎo)致大量的制造缺陷和隨后在短時(shí)間內(nèi)的返工。當(dāng)初的AOI機(jī)器能夠進(jìn)行二維測(cè)量,如檢查板的特征和組件的特征,以確定X和Y坐標(biāo)和測(cè)量。3D系統(tǒng)在2D上進(jìn)行了擴(kuò)展,將高度維度添加到方程中,從而提供X、Y和Z坐標(biāo)和測(cè)量。
注意:有些AOI系統(tǒng)實(shí)際上并不“測(cè)量”組件的高度。
AOI在制造過(guò)程早期發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,并在板被移到下一個(gè)制造步驟之前保證工藝質(zhì)量。AOI通過(guò)向生產(chǎn)線反饋并提供歷史數(shù)據(jù)和生產(chǎn)統(tǒng)計(jì)來(lái)幫助提高產(chǎn)量。確保質(zhì)量在整個(gè)過(guò)程中得到控制,節(jié)省了時(shí)間和金錢(qián),因?yàn)椴牧侠速M(fèi)、修理和返工、增加的制造勞動(dòng)力、時(shí)間和費(fèi)用,更不用說(shuō)所有設(shè)備故障的成本。 惠州半導(dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)AOI的種類(lèi)由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同,詳情了解分類(lèi)。

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分為兩類(lèi):可見(jiàn)光檢測(cè)和X光檢測(cè)
AOI檢測(cè)分為兩部分:
光學(xué)部分和圖像處理部分,通過(guò)光學(xué)部分獲得需要檢測(cè)的圖像;通過(guò)圖像處理部分來(lái)分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持,因?yàn)楹畏N缺陷需要不同的計(jì)算方法用電腦進(jìn)行計(jì)算和判斷。
燈光變化的智能控制
人認(rèn)識(shí)物體是通過(guò)光線反射回來(lái)的量進(jìn)行判斷,反射量多為量,反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過(guò)人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,把從光源反射回來(lái)的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對(duì)AOI來(lái)說(shuō),燈光是認(rèn)識(shí)影響的關(guān)鍵因素,但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響,不能維持不變的光源,因此需要通過(guò)“自動(dòng)跟蹤”燈光“透過(guò)率“對(duì)燈光變化進(jìn)行智能控制。
焊點(diǎn)檢測(cè)原理
AOI是X、Y平面(2D)檢測(cè),而焊點(diǎn)是立體的,因此需要3D檢測(cè)焊點(diǎn)高度(Z)。
3D檢測(cè)的方法有
當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí),元件部分燈光反射到camera,而焊點(diǎn)部分光線反射出去。與此相反,用底部(水平)燈光照射時(shí),元件部分燈光反射出去,焊點(diǎn)部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響。
在AOI檢測(cè)系統(tǒng)中,被測(cè)物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì),尤其是FPD、硅片、半導(dǎo)體、MEMS和一些光學(xué)組件等精密制造與組裝行業(yè)。在這些領(lǐng)域,制造過(guò)程需在超凈間進(jìn)行,要求AOI檢測(cè)系統(tǒng)有很高的自潔能力,不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染,這會(huì)影響系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型等。因此,會(huì)需要采取氣浮支撐、定位與傳輸機(jī)構(gòu)以及利用FFU風(fēng)機(jī)過(guò)濾機(jī)組對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行環(huán)境凈化,并采取消靜電裝置,對(duì)工件進(jìn)行防靜電處理。
高速圖像數(shù)據(jù)處理也是AOI檢測(cè)系統(tǒng)的重要部分之一。由于AOI檢測(cè)是通過(guò)圖像傳感方式獲取被測(cè)信息的,尤其是高速在線檢測(cè),圖像數(shù)據(jù)有時(shí)是海量的,為滿(mǎn)足生產(chǎn)節(jié)拍需求,必須采用高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)。會(huì)采用共享內(nèi)存、分布式內(nèi)存多進(jìn)程處理、分布式計(jì)算機(jī)集群等方式,把巨大的圖像分時(shí)、分塊分割成小塊數(shù)據(jù)流,分散到集群系統(tǒng)各節(jié)點(diǎn)處理。對(duì)于耗時(shí)復(fù)雜的算法,有時(shí)只靠計(jì)算機(jī)CPU很難滿(mǎn)足時(shí)間要求,還需配備如DSP、GPU和FPGA等硬件處理模塊,協(xié)同實(shí)現(xiàn)快速?gòu)?fù)雜的計(jì)算難題。
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀及其工作原理AOI經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展,技術(shù)水平仍處于高速發(fā)展階段。

AOI檢測(cè)的工作邏輯可以分為圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集),數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類(lèi)與轉(zhuǎn)換),圖像分析段(特征提取與模板比對(duì))和缺陷報(bào)告階段這四個(gè)階段(缺陷大小類(lèi)型分類(lèi)等)
為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)包括了工作平臺(tái),成像系統(tǒng),圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分,是一個(gè)集成了機(jī)械,自動(dòng)化,光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備
圖像采集階段
AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分
因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與模板做對(duì)比,所以獲取的圖像信息準(zhǔn)確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要,可以想象一下,如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn),那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出 SMT加工中AOI設(shè)備的用途——自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)?;葜莅雽?dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)
關(guān)于AOI設(shè)備光學(xué)檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)?;葜莅雽?dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)
AOI的全稱(chēng)是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是利用光學(xué)原理對(duì)SMT貼片加工的焊接過(guò)程,進(jìn)行常見(jiàn)缺陷檢測(cè)的設(shè)備。當(dāng)AOI檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)檢測(cè)時(shí),設(shè)備通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB,采集PCB圖像,并將采集到的PCB圖像數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中輸入的參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單圖像處理,確定PCB板焊接缺陷,并通過(guò)自動(dòng)標(biāo)志裝置或設(shè)備顯示器把缺陷標(biāo)示/顯示出來(lái),以便工人及時(shí)修理。它既可以檢測(cè)元器件的多件、缺件、錯(cuò)件、立碑、側(cè)立、偏立、反貼、換件、極反、IC引腳彎曲、文字識(shí)別。也可以檢測(cè)焊錫的多錫、少錫、無(wú)錫、虛焊、短路、錫球、浮起等。
AOI檢測(cè)設(shè)備主要分為兩類(lèi):在線AOI檢測(cè)設(shè)備和離線AOI檢測(cè)設(shè)備。
1、在線AOI檢測(cè)設(shè)備:
使用AOI檢查設(shè)備監(jiān)視PCB生產(chǎn)過(guò)程。通過(guò)對(duì)生產(chǎn)線上每一塊PCB的檢測(cè),在線監(jiān)控PCB具體的生產(chǎn)狀況,并為調(diào)整生產(chǎn)工藝提供依據(jù)。當(dāng)制造低混合度的大批量產(chǎn)品,且產(chǎn)品可靠性很重要時(shí),廠商會(huì)優(yōu)先采用在線AOI檢測(cè)。
2、離線AOI檢測(cè)設(shè)備:
離線AOI檢測(cè)設(shè)備是對(duì)走下生產(chǎn)線的PCB產(chǎn)品終狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。主要用于生產(chǎn)問(wèn)題明確、數(shù)量和速度為關(guān)鍵因素、產(chǎn)品混合度高的產(chǎn)品的檢測(cè)。一般都將離線AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)置在生產(chǎn)線的中段,在這個(gè)位置,設(shè)備可以產(chǎn)生較廣的過(guò)程控制信息。 惠州半導(dǎo)體AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)
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