PCB板的檢測是時候要注意一些細節(jié)方面，以便更準(zhǔn)備的保證產(chǎn)品質(zhì)量，在檢測PCB板的時候，我們應(yīng)注意下面的小常識。PCB檢測常識1、嚴禁在無隔離變壓器的情況下，用已接地的測試設(shè)備去接觸底板帶電的電視、音響、錄像等設(shè)備來檢測PCB板嚴禁用外殼已接地的儀器設(shè)備直接測試無電源隔離變壓器的電視、音響、錄像等設(shè)備。雖然一般的收錄機都具有電源變壓器，當(dāng)接觸到較特殊的尤其是輸出功率較大或?qū)Σ捎玫碾娫葱再|(zhì)不太了解的電視或音響設(shè)備時，首先要弄清該機底盤是否帶電，否則極易與底板帶電的電視、音響等設(shè)備造成電源短路，波及集成電路，造成故障的進一步擴大。2、檢測PCB板要注意電烙鐵的絕緣性能不允許帶電使用烙鐵焊接，要確認烙鐵不帶電，比較好把烙鐵的外殼接地，對MOS電路更應(yīng)小心，能采用6~8V的低壓電路鐵就更安全。 上海柏毅試驗設(shè)備有限公司專業(yè)提供各類測試系統(tǒng)，可以隨時來電咨詢我司！廣東HCT測試系統(tǒng)原理

電路板從開始設(shè)計到完成成品，要經(jīng)過很多過程，元器件選型、原理圖設(shè)計、PCB設(shè)計、PCB打樣制作、調(diào)試測試、性能測試、溫升測試等，經(jīng)過一系列過程，較終要得出一個性能可靠、能夠持續(xù)工作的電路板，電路板溫升不能太高，太高則對元器件壽命有影響、對電路板表現(xiàn)的性能有影響。電路板工作各個元器件都處于不同的工作狀態(tài)，在工作的時候就會產(chǎn)生了熱量，機體內(nèi)部溫升上升，因此元器件功耗是引起溫升的直接起源，除了元器件當(dāng)然還有環(huán)境溫度，因此降低電路板內(nèi)部溫度成為每個工程師設(shè)計時候必要考慮到的問題之一，那么電路板的溫升問題如何解決呢？下面介紹幾種方法1.電路板布局走線設(shè)計合理化這是較重要注意的地方之一，電路板有很多元器件，每個元器件對于溫度耐溫不一樣，比如有些IC工作溫度達到105°，繼電器工作溫度85°等、消耗功率發(fā)熱程度不一樣、高低也不一樣。 廣東HCT測試系統(tǒng)原理上海柏毅試驗設(shè)備有限公司可以提供各種測試系統(tǒng)，有需要請致電我司！

電子產(chǎn)品高低溫循環(huán)測試電子產(chǎn)品或元器件的互聯(lián)可靠性中較重要的是各回路的互聯(lián)電阻?；ヂ?lián)可靠性一般通過高低溫循環(huán)進行測試，高低溫循環(huán)測試是將測試樣品交替置于高溫和低溫環(huán)境一定的時間，如高低溫沖擊箱，熱油試驗箱等。并檢測測試樣品的各種電性能的變化情況。從而得到產(chǎn)品的可靠性和壽命等有關(guān)數(shù)據(jù)，電子產(chǎn)品或元器件的高低溫循環(huán)測試中的互聯(lián)電阻測試方法離線測試。一般是在試驗箱外對待測試產(chǎn)品進行各項電性能測試后，再放入高低溫循環(huán)測試試驗箱，經(jīng)過一定時間的高低溫循環(huán)測試后，將待測試樣品取出，再次進行各項電性能測試，如此循環(huán)重復(fù)多次，直到設(shè)定的測試循環(huán)數(shù)完成或待測試樣品失效。由于離線測試需要中途停止高低溫循環(huán)并將待測試產(chǎn)品取出試驗箱后進行測試，一方面無法進行高頻率的測試，一般只能幾十或上百循環(huán)才能進行一次測試，另一方面，測試中產(chǎn)品如果發(fā)生失效，只能在下一次測試時才能發(fā)現(xiàn)，并且無法得到產(chǎn)品發(fā)生失效的具體循環(huán)數(shù)，這樣對于一些產(chǎn)品質(zhì)量相差不大的產(chǎn)品或批次無法進行甄別。

HCT耐電流電阻測試機系統(tǒng)簡介HighDensityInterconnections--高密度互聯(lián)技術(shù)HDIHDI板是指通過高密度微細布線和微小導(dǎo)通孔技術(shù)來生產(chǎn)制作的線路板，是PCB行業(yè)在20世紀末發(fā)展起來的一門較新的技術(shù)，與傳統(tǒng)PCB相比采用激光鉆孔技術(shù)（又稱鐳射板），鉆孔更小，線路更窄，焊盤大幅度減小，所有單位面積內(nèi)可以得到更多的線路分布，高密度互連由此而來，HDI技術(shù)的出現(xiàn)，適應(yīng)幵推進了PCB行業(yè)的發(fā)展，同時對PCB板的制作和測試要求更高。二、HCT耐電流電阻測試機系統(tǒng)測試目的：耐電流測試是在特殊設(shè)計的孔鏈上施加一定的直流電流，并持續(xù)一段時間，電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱，熱量傳遞到孔鏈附近基材上，基材受熱膨脹產(chǎn)生Z方向膨脹應(yīng)力導(dǎo)致盲孔斷裂，從而檢測出孔鏈的互聯(lián)可靠性能。 上海柏毅試驗設(shè)備有限公司可以為您提供各種測試系統(tǒng)，詳情請致電咨詢！

離子遷移(CAF)測試是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長時間的測試條件下，檢測兩個網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。實踐證明，將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，進行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。一方面因為將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，PCB會變得干燥，從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升，另一方面，當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗箱中承受偏置電壓時，離子遷移可能隨時發(fā)生。上海柏毅試驗設(shè)備有限公司歡迎您的咨詢，我們將竭誠為您服務(wù)！ 各種測試系統(tǒng)，就選上海柏毅試驗設(shè)備有限公司，用戶信賴之選，想了解詳細情況，請來電！廣東HCT測試系統(tǒng)原理

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PCB的絕緣性劣化，突出表現(xiàn)在電極之間產(chǎn)生離子遷移現(xiàn)象。當(dāng)對PCB工作下施加的電壓增高時，它的絕緣性就會有很快的下降。而離子遷移的間隙，就是導(dǎo)體間的絕緣體中的樹脂內(nèi)微細空隙、玻璃纖維布和樹脂的粘接界面、銅箔與樹脂的粘接界面、樹脂中的填充材料的粘接界面、絕緣體受到熱沖擊后產(chǎn)生的微細裂縫等。層間剝離界面剝離、處理液等的不純物的浸入、絕緣體內(nèi)含有不純物、絕緣材料的劣化等，都易于誘發(fā)離子遷移現(xiàn)象在PCB上發(fā)生。在玻纖布的纖維與樹脂之間產(chǎn)生的離子遷移現(xiàn)象，稱作CAF(ConductiveAnodicF1iament)現(xiàn)象。將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，進行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。一方面因為將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，PCB會變得干燥，從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升，另一方面，當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗箱中承受偏置電壓時，離子遷移可能隨時發(fā)生。有效的PCB離子遷移測試，需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗箱外的有關(guān)測試設(shè)備上。 廣東HCT測試系統(tǒng)原理

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