當(dāng)三坐標(biāo)使用轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)測(cè)量時(shí)，測(cè)針固定不動(dòng)、同一點(diǎn)接觸工件表面進(jìn)行測(cè)量，即使測(cè)球的圓度不是較佳的，但是測(cè)量結(jié)果也并未因此出現(xiàn)偏差。工件固定使用測(cè)針移動(dòng)來(lái)測(cè)量時(shí)，可以發(fā)現(xiàn)由于測(cè)球的圓度偏差所導(dǎo)致的測(cè)量結(jié)果誤差。由此我們知道，為了取得高精度測(cè)量需要高精度的測(cè)球。 ，測(cè)球的材質(zhì)也是影響測(cè)量的關(guān)鍵因素之一。一方面，紅寶石測(cè)球在使用一段時(shí)間后會(huì)因掃描較硬的工件產(chǎn)生磨損，圓度變差，精度降低。另一方面，掃描較軟的鋁合金材質(zhì)又會(huì)在紅寶石測(cè)球表面產(chǎn)生“沉積”同樣造成圓度變差，精度降低。三坐標(biāo)測(cè)量的星形測(cè)針的組合及應(yīng)用對(duì)于星形測(cè)頭，它是由裝在一個(gè)測(cè)桿上的四個(gè)互相交叉的測(cè)頭組成。浙江RENISHAW-QC20廠家哪家好

盤(pán)形測(cè)針：主要應(yīng)用：這類測(cè)針用于檢測(cè)星形測(cè)針無(wú)法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。用簡(jiǎn)易盤(pán)形測(cè)針的“球形邊緣”進(jìn)行檢測(cè)與以大直徑測(cè)球的外圓或其附近進(jìn)行檢測(cè)同樣有效。但該測(cè)球表面只有一小部分能夠接觸，因此為確保與待測(cè)目標(biāo)有良好接觸，需要對(duì)較薄的盤(pán)形測(cè)針進(jìn)行角度調(diào)整。半球形盤(pán)形測(cè)針：這種測(cè)針有一個(gè)半球即滾子安裝在每一個(gè)盤(pán)面上，兩個(gè)滾子都位于下方和頂部，確保了Z方向的點(diǎn)接觸。主要應(yīng)用：也用于退刀槽、梯形孔和孔內(nèi)凹槽。使用上方及下方的半球形測(cè)針也可在Z方向進(jìn)行測(cè)量，如測(cè)量凹槽寬度。浙江RENISHAW-QC20廠家哪家好您也可以使用測(cè)針中心座安裝（較多）5個(gè)測(cè)針組件自行配置星形測(cè)針。

測(cè)球的選擇。優(yōu)先選擇球徑較大的測(cè)針，測(cè)球直徑大就會(huì)減小被測(cè)表面紋路粗糙對(duì)精度造成的影響，測(cè)球直徑越大，圓度就越好，測(cè)桿就越粗，測(cè)力變形也就越小，其曲面半徑就大一些，接觸變形就會(huì)更小，球徑與測(cè)針桿之差也就越大，在測(cè)量工件時(shí)碰到測(cè)桿的機(jī)率就比小球徑的測(cè)針要小得多。測(cè)桿的選擇。測(cè)量精度隨著測(cè)桿長(zhǎng)度的增加而降低因此要盡量選擇具有大剛度、盡可能短而粗的測(cè)桿才是正確的做法。雖然測(cè)桿并不會(huì)直接引起特定的誤差，但測(cè)桿長(zhǎng)度會(huì)將誤差放大。測(cè)桿的撓性也會(huì)放大預(yù)行程的變化。陶瓷測(cè)桿通?？捎糜诩刃枰院?，又要求重量輕的測(cè)量任務(wù)。同樣，碳纖維通常也可用于制造很長(zhǎng)的測(cè)桿。

校準(zhǔn)測(cè)針時(shí)，需注意的問(wèn)題：測(cè)前準(zhǔn)備。根據(jù)工件的測(cè)量范圍以及需要測(cè)量的方向和位置，首先確定所需用的測(cè)針組合，包括測(cè)針的直徑、數(shù)量、方向和是否加裝接長(zhǎng)桿，盡量不在測(cè)量過(guò)程中更換測(cè)針。檢測(cè)校準(zhǔn)。測(cè)針校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)使所選測(cè)針在標(biāo)準(zhǔn)球的軸向大直徑處分別接觸測(cè)量，以提高測(cè)針校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度。注意觀察校準(zhǔn)后測(cè)針的直徑和校準(zhǔn)時(shí)的形狀誤差，如果有較大變化，就需要查找原因。需要進(jìn)行6次以上的校準(zhǔn)，觀察其校準(zhǔn)結(jié)果的重復(fù)性數(shù)據(jù)，以統(tǒng)計(jì)原理求出標(biāo)準(zhǔn)偏差進(jìn)行分析。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭校正主要使用標(biāo)準(zhǔn)球進(jìn)行。

由紅寶石或氮化硅制成的測(cè)針，工作人員必須做到定時(shí)定期清潔，當(dāng)測(cè)量極端材料時(shí)，還必須經(jīng)常更換它們。在更換測(cè)針的情況下，重新進(jìn)行測(cè)量會(huì)使蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)得不到高效的利用。這也是造成許多操作人員放棄對(duì)工件進(jìn)行連續(xù)掃描的主要原因。如果是單點(diǎn)測(cè)量的話，也就意味著測(cè)針損耗的減少。但是，對(duì)比掃描過(guò)程，在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生大量的測(cè)量數(shù)據(jù)，單點(diǎn)測(cè)量會(huì)放慢測(cè)量速度，而且還有其他的缺點(diǎn)。測(cè)量時(shí)，假如測(cè)球的材料時(shí)由紅寶石或者氮化硅制成的話，在接觸到類似于陶瓷一樣很硬的材料，或者是像鋁合金很軟的材料時(shí)，在時(shí)間的推移下，圓度會(huì)變得越來(lái)越差。尖測(cè)針普通的XY測(cè)量時(shí)不運(yùn)用。浙江RENISHAW-QC20廠家哪家好

測(cè)針加長(zhǎng)桿：測(cè)針加長(zhǎng)桿通過(guò)延長(zhǎng)測(cè)針到測(cè)頭的距離，增加了檢測(cè)深度。浙江RENISHAW-QC20廠家哪家好

雷尼紹加長(zhǎng)桿測(cè)針： 關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括： TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）， TP200測(cè)針模塊—選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）， PI200測(cè)頭接口， SCR200測(cè)針交換架， 還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。 零復(fù)位誤差， 快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖， TP200/TP200B測(cè)頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。浙江RENISHAW-QC20廠家哪家好